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2020-11

電阻率測試儀是取代直流單、雙臂電橋的高精度換代產(chǎn)品。儀器采用了先進的開關(guān)電源技術(shù)，其測量速度比電橋快一百多倍，顯示部分由四位半LCD液晶顯示測量結(jié)果，三位半LCD液晶顯示環(huán)境溫度或測試電流值，克服了其它同類產(chǎn)品由LED顯示值在陽光下不便讀數(shù)的缺點，同時具備了自動消弧功能。本儀器具有測速快、精度高、顯示直觀、抗干擾能力強、體積小、耗電省、測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠、不受人為因素影響等優(yōu)點。儀器內(nèi)裝可充電電池組(12V)，交直流兩用，便于現(xiàn)場及野外測試。電阻率測試儀使用方法及注意事項吧A:...

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2020-11

粉末壓實密度的原理和計算方法

粉末壓實密度儀主要用于粉末和顆粒壓實密度測試，在外力的壓縮過程中，隨著粉末的移動和變形，較大的空隙被填充，顆粒間接觸面積增大，使原子間產(chǎn)生吸引力且顆粒間的機械楔合作用增強，從而形成具有一定密度和強度的壓坯?？梢杂糜诰哂蓄愃铺匦灾勰┖皖w粒壓實密度之測定。壓實密度的計算公式：壓實密度=面密度/材料的厚度在鋰離子電池設(shè)計過程中，壓實密度=面密度/(極片碾壓后的厚度—集流體厚度)，單位：g/cm3；壓實密度分為：負極壓實密度Anodedensity（或稱為陽極壓實密度）和正極壓實密...

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2020-11

方塊電阻的計算方法

方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值，該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的計算方法：方塊電阻：Rs=ρ/t(其中ρ為塊材的電阻率,t為塊材厚度）或者寫成電導率的表達式：Rs=1/(σt)這樣在計算塊材電阻的時候，我們就可以利用方塊電阻乘以長寬比例得到，計算過程與維度無關(guān)：R=Rs*L/W(L為塊材長度，W為塊材寬度）方塊電阻測試儀是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、I...

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2020-10

顆粒強度測定儀的使用方法

顆粒強度測定儀是用來測定各種樣品的顆粒強度破碎值，有體積小、測量值直讀、精度高、使用方便等優(yōu)點，是化肥、藥品、催化劑、顆粒等樣品強度測定較為理想的新一代試驗儀器。顆粒強度測定儀的使用方法：1、逆時針旋轉(zhuǎn)手輪,使加力桿上移,接通電源,顯示器顯示00.0,如顯示其它數(shù)值,應(yīng)反復按清零鍵,直到數(shù)字顯示為00.0。2、將試驗樣品置于樣品盤中心位置,再順時針旋轉(zhuǎn)手輪,將加力桿下移,當加力桿接近樣品時,按一下峰值保持鍵,此時峰值保持指示燈亮,再繼續(xù)慢慢旋轉(zhuǎn)手輪,此時顯示器已有數(shù)據(jù)顯示,并...

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2020-10

粉末松裝密度的測量方法有哪幾種

粉末松裝密度是粉末在規(guī)定條件下自由充滿標準容器后所測得的堆積密度，即粉末松散填裝時單位體積的質(zhì)量，以g/cm3表示，是粉末的一種工藝性能。松裝密度是粉末多種性能的綜合體現(xiàn)，對粉末冶金機械零件生產(chǎn)工藝的穩(wěn)定，以及產(chǎn)品質(zhì)量的控制都是很重要的，也是模具設(shè)計的依據(jù)。粉末松裝密度的測量方法有3種:漏斗法;斯柯特容量計法;振動漏斗法。(1)漏斗法。粉末從漏斗孔按一定高度自由落下充滿杯子。(2)斯柯特容量計法。是把粉末放入上部組合漏斗的篩網(wǎng)上，自由或靠外力流入布料箱，交替經(jīng)過布料箱中4塊傾...

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2020-10

粉末電阻測試儀試樣處理備制及使用要求了解一下

粉末電阻測試儀試樣處理備制及使用要求了解一下1)在實驗前建議對樣品進行處理，對樣品的制備，試樣需要放置于恒定的環(huán)境下，及分開分類管理，樣品的處理過程需要非常仔細防止環(huán)境污染或者不同樣品之前的混合污染;需要保證每份樣品的一致性，從而獲得可靠數(shù)據(jù)。2)試樣制備過程中，請使用廠家提供的統(tǒng)一器具處理樣品;每一個規(guī)格樣品處理完畢后需要清理器具在處理其他規(guī)格的樣品，保證器具的一致性，從而減少器具材質(zhì)等外在因素造成的影響及不確定性。儀器的使用需要一個相對安全的環(huán)境，這個環(huán)境包括場所安全環(huán)境...

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2020-10

堆積密度測定儀實驗步驟

堆積密度測定儀用于測試各種流動性粉末的自然堆積密度。堆積密度測定儀實驗步驟：1.取出的試樣，在383±5K(110±5℃)下烘干至恒重，隨后移至于干燥器中冷卻至室溫。2.將烘干后的試樣注入漏斗，啟動活動門，將試樣注入量筒。3.用直尺刮平量筒試樣表面，刮平時直尺應(yīng)緊貼量筒上表面邊緣。4.稱量量筒及試樣質(zhì)量；5.試驗過程中應(yīng)保證試樣呈松散狀態(tài)，防止任何程度的振動。結(jié)果計算：堆積密度按式(1)計算：m2-m1ρ＝────……(1)υ式中：ρ——試樣堆積密...

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2020-10

四探針電阻測試儀的技術(shù)指標

四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備，用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）。四探針測試儀由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。四探針電阻測試儀的技術(shù)指標：1.方塊電阻范圍：10-4～2×103Ω/□2.電阻率范圍：10-5～2×104Ω-cm3.測試電流范圍：10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.電流精度：...

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